EXAFS spectroscopy, techniques and applications (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : EXAFS spectroscopy, techniques and applicationshttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1152528~S6*frcRechercher Teo, B. K; Rechercher Joy, David C; Rechercher Teo, Boon-Keng; Rechercher Joy, D. CPlenum Press, 1981, ISBN : 9780306406546Livre
Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysishttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1613741~S6*frcRechercher Joy, David C; Rechercher Joy, D. COxford University Press, 1995, ISBN : 0195088743Livre
SEM microcharacterization of semiconductors (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : SEM microcharacterization of semiconductorshttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1583916~S6*frcRechercher Holt, D. B; Rechercher Joy, David C; Rechercher Joy, D. CAcademic Press, 1989, ISBN : 9780123538550Livre
Principles of analytical electron microscopy (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Principles of analytical electron microscopyhttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1345287~S6*frcRechercher Joy, David C; Rechercher Romig, Alton D; Rechercher Goldstein, Joseph; Rechercher Romig, A. DPlenum Press, 1986, ISBN : 0306423871Livre
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis : a text for biologists, materials scientists, and geologists (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis : a text for biologists, materials scientists, and geologistshttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1534029~S6*frcRechercher Goldstein, JosephPlenum Press, 1992, ISBN : 0306441756Livre
Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysishttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1338591~S6*frcRechercher Newbury, Dale EPlenum Press, 1986, ISBN : 9780306421402Livre
Scanning electron microscopy, X-ray microanalysis, and analytical electron microscopy : a laboratory workbook (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Scanning electron microscopy, X-ray microanalysis, and analytical electron microscopy : a laboratory workbookhttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1489595~S6*frcRechercher Lyman, Charles EPlenum Press, 1990, ISBN : 0306435918Livre
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Scanning electron microscopy and x-ray microanalysishttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1986603~S6*frcRechercher Goldstein, JosephKluwer Academic/Plenum Publishers, 2002, ISBN : 0306472929Livre
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis : a text for biologists, materials scientists, and geologists (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis : a text for biologists, materials scientists, and geologistshttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=3289362~S6*frcRechercher Goldstein, JosephPlenum Press, 1984, ISBN : 030640768XLivre
Introduction to analytical electron microscopy (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Introduction to analytical electron microscopyhttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1068856~S6*frcRechercher Goldstein, Joseph; Rechercher Hren, John J; Rechercher Joy, David C; Rechercher Hren, J. JPlenum Press, 1979Actes de conférence