https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=be57d496-2794-4aa5-87ff-f558baf06988
Rechercher Cole, Kenneth C; Rechercher Noël, Denis; Rechercher Hechler, Jean-Jacques; Rechercher Wilson, David
Mikrochimica Acta, Springer, 1 janvier 1988, Volume : 94, Numéro : 1-6
Diffuse reflection Fourier transform infrared spectroscopy can be used for nondestructive determination of the degree of crystallinity at the surface of...
Article de périodique (revue)