Nanoscopic electric potential probing: influence of probe-sample equilibration time on spatial resolution (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Nanoscopic electric potential probing: influence of probe-sample equilibration time on spatial resolutionhttps://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=0ce92225-eeaa-4355-a005-8d00cfb6a0b9Rechercher Kuntze, S. B; Rechercher Sargent, E. H; Rechercher Dixon-Warren, St. J; Rechercher White, J. K; Rechercher Hinzer, K; Rechercher Ban, DApplied Physics Letters, janvier 2004, Volume : 84, Numéro : 4Article de périodique (revue)
Scanning voltage microscopy on active semiconductor lasers: the impact of doping profile near an epitaxial growth interface on series resistance (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Scanning voltage microscopy on active semiconductor lasers: the impact of doping profile near an epitaxial growth interface on series resistancehttps://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=e634714c-747e-4310-aa78-9876827457beRechercher Ban, D; Rechercher Sargent, E. H; Rechercher Dixon-Warren, St. J; Rechercher Hinzer, K; Rechercher Calder, I; Rechercher Springthorpe, Anthony; Rechercher White, J. KIEEE Journal of Quantum Electronics, 2004, Volume : 40, Numéro : 6Article de périodique (revue)
Effect of doping concentration on the performance of terahertz quantum-cascade lasers (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Effect of doping concentration on the performance of terahertz quantum-cascade lasershttps://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=254d0338-149d-4bba-9d67-d69238a9441fRechercher Liu, Hui; Rechercher Wächter, M; Rechercher Ban, D; Rechercher Wasilewski, Zbigniew; Rechercher Buchanan, Margaret; Rechercher Aers, Geoffrey; Rechercher Cao, J. C; Rechercher Feng, S. L; Rechercher Williams, B. S; Rechercher Hu, QApplied Physics Letters, 2005, Volume : 87, Numéro : 14Article de périodique (revue)
Direct observation of lateral current spreading in ridge-waveguide lasers using scanning voltage microscopy (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Direct observation of lateral current spreading in ridge-waveguide lasers using scanning voltage microscopyhttps://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=40ed52e9-6853-4556-a8c1-4558c73d8867Rechercher Ban, D; Rechercher Sargent, E. H; Rechercher Hinzer, K; Rechercher Dixon-Warren, St. J; Rechercher Calder, I; Rechercher Springthorpe, Anthony; Rechercher White, J. KApplied Physics Letters, 2003, Volume : 82, Numéro : 23Article de périodique (revue)
Direct imaging of the depletion region of an InP pn junction under bias using scanning voltage microscopy (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Direct imaging of the depletion region of an InP pn junction under bias using scanning voltage microscopyhttps://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=42003d2c-25a0-447c-aa44-1baca85c6dbbRechercher Ban, D; Rechercher Sargent, E. H; Rechercher Dixon-Warren, St. J; Rechercher Calder, I; Rechercher Springthorpe, Anthony; Rechercher Dworschak, R; Rechercher Este, G; Rechercher White, J. KApplied Physics Letters, 2002, Volume : 81, Numéro : 26Article de périodique (revue)
Two-Dimensional Transverse Cross-Section Nanopotentiometry of Actively-Driven Buried Heterostructure Multiple-Quantum-Well Lasers (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Two-Dimensional Transverse Cross-Section Nanopotentiometry of Actively-Driven Buried Heterostructure Multiple-Quantum-Well Lasershttps://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=941e661c-e587-4ff9-a75a-68fea4393145Rechercher Ban, D; Rechercher Sargent, E. H; Rechercher Dixon-Warren, St. J; Rechercher Calder, I; Rechercher Grevatt, T; Rechercher Knight, G; Rechercher White, J. KJournal of Vacuum Science & Technology B, 2002, Volume : 20, Numéro : 6Article de périodique (revue)
Two-Dimensional Profiling of Carriers in a Buried Heterostructure Multi-Quantum-Well Laser: Calibrated Scanning Spreading Resistance Microscopy and Scanning Capacitance Microscopy (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Two-Dimensional Profiling of Carriers in a Buried Heterostructure Multi-Quantum-Well Laser: Calibrated Scanning Spreading Resistance Microscopy and Scanning Capacitance Microscopyhttps://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=e95e92d8-5414-4ad9-b986-93c894e2bccaRechercher Ban, D; Rechercher Sargent, E. H; Rechercher Dixon-Warren, St. J; Rechercher Grevatt, T; Rechercher Knight, G; Rechercher Pakulski, Grzegorz; Rechercher Springthorpe, Anthony; Rechercher Streater, R; Rechercher White, J. KJournal of Vacuum Science & Technology B, 2002, Volume : 20, Numéro : 5Article de périodique (revue)