Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscalehttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=3037791~S6*frcRechercher Kalinin, S. V; Rechercher Gruverman, ASpringer, 2007, ISBN : 0387286675Livre