Aberration-corrected scanning transmission electron microscopy is used to determine the atomic structure of nanoclusters of cerium dopant atoms embedded in...
In this paper we present SOI, suspended Si, and Ge-on-Si photonic platforms and mid- IR passive and active devices based on these platforms. We demonstrate low...
Article de périodique (revue)
Filtrer vos résultats
Opération réussie
L’élément a été sauvegardé.
Opération réussie
Cet élément a été retiré.
Erreur
Vous avez dépassé le nombre maximal de 100 résultats sauvegardés.
Erreur
Impossible de sauvegarder l’élément. Veuillez réessayer. Si le problème persiste, il pourrait y avoir un problème avec l’élément.
Erreur
Impossible de supprimer l’article demandé. Veuillez réessayer plus tard.