https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=f2fb0554-49a2-4e7d-a235-1ea1b76e4172
Rechercher Kim, Kyu-Tae; Rechercher Jung, Jae Kap; Rechercher Lee, Young Seob; Rechercher So, Eddy; Rechercher Bennett, David
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, IEEE, 28 avril 2015, Volume : 64, Numéro : 6
The application of a binary step-up method has been investigated at the Korea Research Institute of Standards and Science (KRISS) for establishment of high dc...
Article de périodique (revue)
Texte intégral en ligne