https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=d55688eb-7fbc-4fbe-9d5d-b5dea48d63e4
Rechercher Xu, Dan-Xia; Rechercher Das, Suhit R; Rechercher Erickson, Lynden; Rechercher Naem, Abdalla
Materials reliability issues in microelectronics V, Materials Research Society, 1995
Article de périodique (revue)