Nanocharacterisation (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Nanocharacterisationhttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=2189815~S6*frcRechercher Kirkland, Angus; Rechercher Hutchison, J. LRSC Pub, 2007, ISBN : 9780854042418Livre
Characterization of high Tc materials and devices by electron microscopy (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Characterization of high Tc materials and devices by electron microscopyhttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1923410~S6*frcRechercher Browning, Nigel D; Rechercher Pennycook, Stephen JCambridge University Press, 2000, ISBN : 052155490XLivre
Ordered Structures at Si on Ge(001) Interfaces (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Ordered Structures at Si on Ge(001) Interfaceshttps://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=e97422b3-fe47-4b74-8852-cbd5ca32b13dRechercher Jesson, D. E; Rechercher Chisholm, M. F; Rechercher Pennycook, S. J; Rechercher Baribeau, J.-MPhysical Review Letters, 3 juillet 1995, Volume : 75, Numéro : 1A Comment on the Letter by N. Ikarashi et al., Phys. Rev. Lett. 72, 3198 (1994). The authors of the Letter offer a Reply.Article de périodique (revue)