Advances in scanning probe microscopy (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Advances in scanning probe microscopyhttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1918223~S6*frcRechercher Sakurai, T; Rechercher Watanabe, YSpringer, 2000, ISBN : 3540667180Livre
Atom-probe field ion microscopy and its applications (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Atom-probe field ion microscopy and its applicationshttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1439407~S6*frcRechercher Sakurai, T; Rechercher Pickering, H. W; Rechercher Sakai, AAcademic Press, 1989, ISBN : 0120145820Livre
A New result in surface segregation of Ni-Cu binary alloys (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : A New result in surface segregation of Ni-Cu binary alloyshttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1313396~S6*frcRechercher Sakurai, ToshioInstitute for Solid State Physics, University of Tokyo, 1985Livre
The high performance focusing-type time-of-flight atom-probe (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : The high performance focusing-type time-of-flight atom-probehttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1266606~S6*frcRechercher Sakurai, ToshioInstitute for Solid State Physics, University of Tokyo, 1983Livre
Determination of the absolute detection efficiency of a channelplate electron multiplier (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Determination of the absolute detection efficiency of a channelplate electron multiplierhttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1313375~S6*frcRechercher Sakurai, Toshio; Rechercher Hashizume, TInstitute for Solid State Physics, University of Tokyo, 1985Livre
An effect of phonons on the surface segregation of random binary alloys (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : An effect of phonons on the surface segregation of random binary alloyshttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1249128~S6*frcRechercher Sakai, Akira; Rechercher Sakurai, ToshioInstitute for Solid State Physics, University of Tokyo, 1983Livre
A numerical analysis of the Poschenrieder lens in conjunction with a time-of-flight atom-probe (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : A numerical analysis of the Poschenrieder lens in conjunction with a time-of-flight atom-probehttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1249125~S6*frcRechercher Sakai, Akira; Rechercher Sakurai, ToshioInstitute for Solid State Physics, University of Tokyo, 1983Livre
A high-performance forcusing [i.e. focusing]-type time-of-flight atom-probe with a channeltron as a signal detector (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : A high-performance forcusing [i.e. focusing]-type time-of-flight atom-probe with a channeltron as a signal detectorhttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1246694~S6*frcRechercher Sakurai, Toshio; Rechercher Hashizume, T; Rechercher Jimbo, AkikoInstitute for Solid State Physics, University of Tokyo, 1983Livre
In-situ formation of a grain boundary in field ion microscopy using a laser (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : In-situ formation of a grain boundary in field ion microscopy using a laserhttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1244481~S6*frcRechercher Sakurai, Toshio; Rechercher Jimbo, Akiko; Rechercher Pickering, Howard WInstitute for Solid State Physics, University of Tokyo, 1983Livre
Atom-probe analysis of [gamma]-iron precipitates in a Cu-1.2at.%Fe alloy (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Atom-probe analysis of [gamma]-iron precipitates in a Cu-1.2at.%Fe alloyhttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1412767~S6*frcRechercher Hono, Kazuhiro; Rechercher Pickering, H. W; Rechercher Sakurai, Toshio; Rechercher Pickering, Howard W; Rechercher Sakurai, TInstitute for Solid State Physics, University of Tokyo, 1988Livre