https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=f0b85223-3289-45f7-942d-ec4bc05379d4
Rechercher Deslandes, Yves; Rechercher Pleizier, Gerald; Rechercher Alexander, David; Rechercher Santerre, Paul
Polymer, 1998, Volume : 39, Numéro : 11
Angle dependent X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and static secondary ion mass spectrometry (SSIMS) were used to study the surface composition of two...
Article de périodique (revue)
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