https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=dd1cbdcf-4a79-4afa-bfbe-851afe1b1e35
Rechercher Zhu, Yimei; Rechercher Lau, J. W; Rechercher Beleggia, M; Rechercher Schofield, M. A; Rechercher Volkov, V. V; Rechercher Malac, M
Microscopy and Microanalysis, 31 juillet 2006, Volume : 12, Numéro : Supplement S02
Article de périodique (revue)