Selected papers on statistical design of integrated circuits (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Selected papers on statistical design of integrated circuitshttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1386742~S6*frcRechercher Strojwas, Andrzej JIEEE Press, 1987, ISBN : 0879422262Livre
A unified approach for timing verification and delay fault testing (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : A unified approach for timing verification and delay fault testinghttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1808792~S6*frcRechercher Sivaraman, Mukund; Rechercher Strojwas, Andrzej JKluwer Academic, 1998, ISBN : 0792380797Livre
Yield modelling and defect tolerance in VLSI : papers presented at the International Workshop on Designing for Yield, Oxford, 1-3 July 1987 (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : Yield modelling and defect tolerance in VLSI : papers presented at the International Workshop on Designing for Yield, Oxford, 1-3 July 1987https://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1402574~S6*frcRechercher Moore, Will; Rechercher Strojwas, Andrzej J; Rechercher Maly, WA. Hilger, 1988Actes de conférence
VLSI design for manufacturing : yield enhancement (ouvrira une nouvelle fenêtre)Sauvegarder cet élément : VLSI design for manufacturing : yield enhancementhttps://catalogue-scientifique.canada.ca/record=1454616~S6*frcRechercher Director, Stephen W; Rechercher Strojwas, Andrzej J; Rechercher Maly, WKluwer Academic Publishers, 1990Actes de conférence