https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=e6bdb709-466c-4d45-a2a6-fb093054498b
Thin Solid Films, 1 décembre 1995, Volume : 270, Numéro : 1-2
An all-metal, bakeable, ultra-high vacuum reflection high-energy electron diffraction (UHV RHEED) system has been developed for in-situ studies of films during...
Article de périodique (revue)