https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=040a986c-e28a-4b4e-965f-3adc8a8c6ff9
Rechercher Onoda, Jo; Rechercher Vick, Doug; Rechercher Salomons, Mark; Rechercher Wolkow, Robert; Rechercher Pitters, Jason
AIP Advances, AIP, 7 octobre 2020, Volume : 10, Numéro : 10
Multi-probe scanning tunneling microscopy can play a role in various electrical measurements and characterization of nanoscale objects. The consistent close...
Article de périodique (revue)
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