https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=2aa69af3-2e4c-4587-90a4-b412e0dee323
Langmuir, American Chemical Society, 10 août 2016, Volume : 32, Numéro : 34
While atomic force microscopy (AFM) is a powerful technique for imaging assemblies and networks of nanoscale materials, approaches for quantitative assessment...
Article de périodique (revue)
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