https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=0caec9eb-6c00-494f-8e4c-5896b56780f4
Rechercher Halir, R; Rechercher Ortega-Moux, A; Rechercher Molina-Fernandez, I; Rechercher Wanguemert-Perez, J. G; Rechercher Cheben, P; Rechercher Xu, Dan-Xia; Rechercher Lamontagne, B; Rechercher Janz, S
Journal of Lightwave Technology, IEEE, 1 décembre 2009, Volume : 27, Numéro : 23
The six-port reflectometer technique enables simple and accurate measurement of optical reflection coefficients in both magnitude and phase. The reflection...
Article de périodique (revue)