https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=263d0065-ebd4-41bf-80fc-efad34650394
Rechercher Tischler, J. Z; Rechercher Budai, J. D; Rechercher Jesson, D. E; Rechercher Eres, G; Rechercher Zschack, P; Rechercher Baribeau, J.-M; Rechercher Houghton, D. C
Physical Review. B, 15 avril 1995, Volume : 51, Numéro : 16
Compositional ordering in Si0.5Ge0.5 alloy films grown epitaxially on Si(001) substrates was investigated using four-circle x-ray-diffraction measurements....
Article de périodique (revue)