https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=13421ca6-176d-4b14-9959-1282bc42cd9c
Rechercher Kasrai, M; Rechercher Lennard, W; Rechercher Brunner, R; Rechercher Bancroft, G; Rechercher Bardwell, Jennifer; Rechercher Tan, K
Applied Surface Science, 1 août 1996, Volume : 99, Numéro : 4
High resolution Si L-edge and K-edge X-ray absorption near edge structure (XANES) spectra for SiO2 on Si substrates have been recorded using total electron...
Article de périodique (revue)