https://publications-cnrc.canada.ca/fra/voir/objet/?id=6ddd403b-e6c1-483f-a951-6ce626709c51
Rechercher Landheer, D; Rechercher Wu, X; Rechercher Morais, J; Rechercher Baumvol, I. J. R; Rechercher Pezzi, R. P; Rechercher Miotti, L; Rechercher Lennard, W. N; Rechercher Kim, J. K
Applied Physics Letters, 2001, Volume : 79, Numéro : 16
Gadolinium silicate films on Si(100) annealed in oxygen and vacuum at temperatures up to 800 °C were analyzed by Rutherford backscattering and narrow resonance...
Article de périodique (revue)
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