Microscopy and Microanalysis, juillet 2016, Volume : 22, Numéro : S3
The scanning ion microscopy is gaining momentum as it provides several key advantages over scanning electron microscopy: (i) enhanced depth of focus, (ii)...
This report demonstrates the most spatially-coherent electron source ever reported. A coherence angle of 14.3 ± 0.5° was measured, indicating a virtual source...
We devise a scheme to characterize tunneling of an excess electron shared by a pair of tunnel-coupled dangling bonds on a silicon surface - effectively a...
Nanotechnology 2012: Technical Proceedings of the 2012 NSTI Nanotechnology Conference and Expo. Volume 1: Advanced materials, 2012
A dangling bond (DB) on a silicon surface atomic has been found to behave as an atomic-scale quantum dot. This opens up the possibility of using DBs as...
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